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馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
納米粒度儀即使作為入門級納米粒度及Zeta電位分析儀,Zetasizer Lab 的功能也不容小覷。 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Lab 采用經典動態光散射(90°),包含...
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X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器,通過衍射現象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時,會發生衍射現象,即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息,并通過衍射圖樣的分析,推斷出物質的晶體結構和晶體學參數。X射線衍射儀的主要作用:1、物相分析:能夠區分晶體和非晶體物質,并通過比較未知樣品的衍射數...
工業衍射儀是一種重要的科學實驗儀器,基于光的衍射現象,當光通過物體表面或穿過物體時,會發生衍射現象,即光波的傳播方向發生偏轉。工業衍射儀利用這種現象來研究材料的晶體結構。它通常使用單色光源照射樣品,并通過衍射圖樣來分析樣品的晶體結構。衍射圖樣是由光波在樣品中的衍射產生的干涉圖案,通過解析這些圖案可以獲得材料的晶格參數、晶體結構等信息。工業衍射儀的操作步驟:1、開機準備檢查設備狀態:確保X射線衍射儀的設備狀態良好,各部件無損壞。開啟電源:依次打開墻壁水冷、XRD電源空氣開關,按...
在本系列的前兩篇推文里我們介紹了馬爾文帕納科落地式X射線衍射儀進行同類樣品自動例行分析的“利器”——APP(AutomaticProcessingProgram)軟件(詳見《系列(一):APP介紹及實例》)并演示了APP與HighScorePlus組隊實現石墨化度自動分析(詳見《系列(二):APP與HighScorePlus配合實現自動分析》),本期我們再來看看XRD殘余應力分析軟件Stress與APP是如何打配合的。01簡介Stress軟件是馬爾文帕納科專業的XRD殘余應力...
基于GCI技術的WAVE分子互作分析儀通過一次實驗,可以快速、準確、可靠的獲取一整套描述分子間相互作用的信息,包括并不限于結合有無、結合特異性、描述結合強弱的親和力KD或鍵合常數KA、描述結合快慢與穩定性的動力學常數(結合速率常數ka與解離速率常數kd)等。下面我們將為您介紹WAVE系統所具有的突破傳統檢測方式的最新技術,以及一些典型應用,為您的設備選型提供借鑒和參考。光柵耦合干涉技術(Grating-CoupledInterferometry,GCI)是近年發展起來的、高靈...